XP系列 梅特勒 精密天平 高性能精密天平 XP 精密天平系列提供至高称量性能，并且其安全性可满足苛刻的监管环境要求。 内置的质量管理工具可实施质量指南，并管理至多 8 个用户的密码和访问权限。

XPE系列 梅特勒 精密天平 XPE 精密天平持久耐用，易于清洁，可为几毫克至数千克的样品提供高可读性和可重复性。创新型 SmartPan™ 秤盘提供的稳定性使您能够用 1 mg 读数精度进行称量，而无需防风罩。 即便在通风橱内，5 和 10 mg 型号稳定时间的速度也快了两倍。 重复性改善了两倍。 质量管理功能（如新型 StatusLight™）可在任何实验室中提供快速可靠的称量。

XPE系列-梅特勒 分析天平 XPE 天平提供出色的分析称量性能，并满足至高的安全性、效率且易于合规。 型号：XPE105 、XPE105DR 、 XPE204 、 XPE205DR 、 XPE206DR 、 XPE304 、 XPE504 、 XPE504DR

XS超越系列-梅特勒 分析天平 超越系列XS分析天平，配合其创新选件 ，为快速高效的称量过程设立了全新的标准。 1.简单精确的定量加样。 2.直观的操作。 3.快速高效的称量过程。 梅特勒-托利多XS系列分析天平---始终关注于至高生产力。 型号：XS105DU XS205DU XS64 XS104 XS204 XS204DR

ML-T系列 梅特勒 分析天平 直观的天平，具有 4.5 英寸触摸屏、多项内置应用程序以及令人印象深刻的称量性能。 其台面面积在同类产品中为Z小！

ML-T系列 梅特勒 分析天平 直观的天平，具有 4.5 英寸触摸屏、多项内置应用程序以及令人印象深刻的称量性能。 其台面面积在同类产品中为Z小！